同惠TH513半导体C-V特性分析仪的详细资料

TH513半导体C-V特性分析仪是常州同惠电子根据当前半导体功率器件发展趋势，针对半导体材料及功率器件设计的分析仪器。以下是对该仪器的详细概述：

一、仪器特点

1、一体化集成设计：TH513半导体C-V特性分析仪采用了一体化集成设计，将复杂的接线、繁琐的操作集成在仪器内部，使得测试过程更加简便、高效。

2、高精度测试：仪器设计频率为1kHz\~2MHz，VGS电压可达±40V，VDS电压可达±3000V（根据型号有所不同，如TH512的VDS电压可达±1500V），足以满足大多数功率器件的测试需求。同时，仪器在产线、自动化测试等高速高精度测试场合，都能保证电容、电阻等测试精度。

3、大屏显示：仪器配备了10.1英寸电容触摸屏，分辨率高达1280×800，支持中英文操作界面，使得测试结果和参数设置一目了然。

4、一键测试：仪器支持二极管、三极管、MOS管及IGBT等半导体功率器件寄生电容、CV特性的一键测试，无需频繁切换接线及设置参数，大大提高了测试效率。

5、多通道测试：TH513半导体C-V特性分析仪支持最多6个单管器件、6芯器件或6模组器件测试，所有测量参数通过列表扫描模式同时显示测试结果及判断结果，满足了多器件测试的需求。

6、曲线扫描功能：仪器支持C-V特性曲线分析，可以对数、线性两种方式实现曲线扫描，并可同时显示多条曲线，如同一参数、不同Vg的多条曲线，或同一Vg、不同参数的多条曲线，为实验室研发和分析提供了有力支持。

7、接触检查与快速通断测试：仪器具备接触检查功能，可提前排除自动化测试隐患。同时，还提供了快速通断测试（OP_SH）功能，可用于直接判断器件本身的导通性能，避免了因器件损坏而导致的测试误差。

8、模组式器件设置与支持定制：针对模组式器件如双路（Dual）MOSFET、多组式IGBT等，仪器提供了优化设置，并内置了常见模组式芯片Demo。对于特殊芯片，仪器支持定制功能。

9、智能固件升级：仪器的所有接口、指令集均为开放设计，客户可自行编程集成或进行功能定制。定制功能若无硬件更改，可直接通过固件升级方式更新。固件升级非常智能，可以通过系统设置界面或者文件管理界面进行，智能搜索仪器内存、外接优盘甚至是局域网内升级包，并自动进行升级。

二、功能应用

1、半导体元件/功率元件测试：TH513半导体C-V特性分析仪可用于二极管、三极管、MOSFET、IGBT、晶闸管、集成电路、光电子芯片等寄生电容测试及C-V特性分析。

2、半导体材料分析：仪器可用于晶圆切割、C-V特性分析等方面的研究，为半导体材料的研发提供了有力支持。

3、液晶材料分析：仪器还可用于液晶材料的弹性常数分析，拓展了其应用领域。

三、技术参数

1、通道数：同惠TH513半导体C-V特性分析仪的标准通道数为2，但可选配4/6通道，以满足不同测试需求。

2、显示：仪器配备了10.1英寸（对角线）电容触摸屏，比例为16:9，分辨率为1280×800。

3、测量参数：仪器可测量Ciss、Coss、Crss、Rg等四个参数（针对MOSFET），或Cies、Coes、Cres、Rg等四个参数（针对IGBT），用户可根据实际需求选择测量参数。

4、测试频率：仪器的测试频率范围为1kHz\~2MHz，精度为0.01%，分辨率为10mHz至10Hz不等（根据测试频率范围调整）。

5、测试电平：电压范围为5mVrms\~2Vrms，准确度为±(10%×设定值+2mV)，分辨率为1mVrms至10mVrms不等（根据电压范围调整）。

6、VGS电压：范围为0\~±40V，准确度为1%×设定电压+8mV，分辨率为1mV。

7、VDS电压：范围根据型号有所不同，如TH513的VDS电压可达0\~±3000V（其他型号如TH512为0\~±1500V），准确度为1%×设定电压+100mV，输出阻抗为100Ω，±2%@1kHz。

四、操作便捷性

1、中英文操作界面：仪器支持中英文操作界面，方便国内外用户使用。

2、内置使用说明及帮助：仪器内置了使用说明及帮助文档，用户在使用过程中可随时查阅。

3、多种接口及编程协议：仪器提供了RS232C、USB HOST、USB DEVICE、LAN、GPIB等多种接口，以及SCPI、MODBUS等标准编程指令协议，方便用户自行编程集成到产线自动化测试系统中。

五、应用场景

TH513半导体C-V特性分析仪广泛应用于实验室研发、生产线快速测试、自动化集成测试等领域。在实验室中，仪器的高精度测试和曲线扫描功能为半导体材料和器件的研发提供了有力支持；在生产线上，仪器的一键测试和快速分选功能大大提高了测试效率；在自动化集成测试中，仪器的多种接口和编程协议使得与自动化产线的集成更加简便。

TH513半导体C-V特性分析仪以其高精度、高效率、多功能和操作便捷性等特点，在半导体材料和器件的测试与分析领域发挥着重要作用。

文章来源变压器综合测试仪