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v|tome|x s三维计算机断层扫描

2016-01-12

phoenix v|tome|x s 是一个多功能的高分辨率系统，用于二维X射线检测和三维计算机断层扫描(micro ct 与nano ct))以及三维测量。为达到高度的灵活性，phoenix v|tome|x s可从二者中选择装备：180千伏/ 15 W高功率nanofocus X射线管和240千伏/ 320瓦的微焦点管. 由于这种*的组合，该系统是一个非常有效且可靠的工具，广泛应用于对低吸收材料的*分辨率扫描以及对高吸收物体的三维分析。

主要功能

*的开放式纳米聚焦-微米聚焦双管组合是可能的(180千伏/ 15 W高功率纳米聚焦X射线管和240千伏/ 320瓦的微米聚焦管)
高达10倍的增加的灯丝寿命，通过长寿命的|灯丝(可选)确保了长期稳定性和*系统效率
通过菱形|窗口(可选)以同样的高图像质量水平进行快达2倍的数据采集
通过高动态温度稳定的GE DXR数字探测器获取的30 FPS(帧每秒)(可选)的快速CT采集和清晰的活动影像

顾客利益：

三维测量包用于空间测量，具有*精度，再现性和亲和力
在少于1小时之内自动生成*检测记录是可能的
使用的软件模块以确保zui高的CT质量且便于使用，例如
- 通过点击并测量|CT 用 datos|x 2.0进行高精度可重现的三维测量：全自动化执行的CT扫描，重建和分析过程
- 通过 VELO | CT在几秒钟或几分钟内(取决于体积大小)完成更快的三维CT重建

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